芯片老化測試高低溫交變濕熱試驗箱1000L適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天制品、科研等行業(yè)。滿足試驗標準:
型號:THB-1000PF | 瀏覽量:983 |
更新時間:2023-10-29 | 是否能訂做:是 |
芯片老化測試高低溫交變濕熱試驗箱1000L
技術(shù)參數(shù):
1.溫度范圍:-20℃~150℃
2.濕度范圍:20%~98%R.H
3.溫度均勻度:≤±2℃ (空載時)
4.濕度均勻度:+2% -3%R.H
5.溫度波動度:≤±0.5℃ (空載時)
6.濕度波動度:±2%
7.溫度偏差:≤±2℃
8.濕度偏差:≤±2%
9.降溫速率:0.7~1.0℃/min
10.升溫速率:1.0~3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍:0~999 小時
12.電源電壓:380V±10%
13.設(shè)備總功率:3KW~15KW
控制系統(tǒng):
1. 采用*品牌溫濕度儀表,5.7英寸高清真彩液晶觸摸顯示屏。
2. 實時監(jiān)控(監(jiān)控控制器實時數(shù)據(jù),信號點狀態(tài),實際輸出狀態(tài))。
3. 曲線記錄功能3.3.1.控制器可存儲600天內(nèi)歷史數(shù)據(jù)(24小時運行狀態(tài)下,記錄間隔1min以上,溫濕度數(shù)據(jù)同時記錄時),且可回放上傳的控制內(nèi)歷史數(shù)據(jù)曲線。
4.可通過隨機贈送軟件將導出來的文件在電腦查看或轉(zhuǎn)成EXCEL格式。
5.儀表配備RS232/485端口。
7.具有自動演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更
芯片老化測試高低溫交變濕熱試驗箱1000L
恒溫恒濕試驗箱的滿足國標:
符合標準:GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.3-2006試驗Ca、GB/T2423.4-2008試驗Db。
加熱系統(tǒng)
1、采用遠紅外鎳合金高速加溫(2KW×2)電加熱器
2、高溫*獨立系統(tǒng),不影響低溫試驗、高溫試驗及交變濕熱
3、溫濕度控制輸出功率均由微電腦演算,以達高精度及高效率之用電效益標準型恒溫恒濕試驗箱電路控制系統(tǒng)1、進口數(shù)顯觸摸按鍵,PID微電腦SSR溫度控制器(日本RKC儀表);
2、精度:0.1℃(顯示范圍)
3、分辨率:±0.1℃;
4、感溫傳感器:PT100鉑金電阻測溫體;
5、控制方式:熱平衡調(diào)溫調(diào)濕方式;所有電器均采用(施耐德)系列產(chǎn)品
6、溫度控制采用P . I . D+S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制
7、具有自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定
8、控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇,實時運轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示
9、具有RS-232或RS-485遠程通訊界面,可在電腦上設(shè)計程序,查看試驗過程并執(zhí)行自動開關(guān)機等功能
10、控制器具有熒屏自動屏保功能,在長時間運行狀態(tài)下更好的保護液晶屏(使其壽命更長久)
11、本試驗箱回風口具有自動除霜裝置(這樣才能使試驗時產(chǎn)生的水蒸氣不會聚集在制冷蒸發(fā)器上,產(chǎn)生 冰堵現(xiàn)象)
相關(guān)產(chǎn)品