吊籃冷熱沖擊試驗(yàn)箱 高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試。
型號:TSD-80PF-2P | 瀏覽量:934 |
更新時間:2024-07-20 | 是否能訂做:是 |
吊籃冷熱沖擊試驗(yàn)箱 高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)
技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍:-20℃~+150℃,-40℃~+150℃,-60℃~+150℃。
2.溫度波動度: ±0.5℃。
3.溫度均勻度:±2.0℃。
4.濕度范圍:10%~98%R.H。(可定制:5%~98%R.H或20%~98%R.H)
5.濕度波動度: ±3.0% R.H。
6.升溫時間: 線性空載升溫(嚴(yán)格按客戶測試要求設(shè)定)。
7.降溫時間: 線性空載降溫(嚴(yán)格按客戶測試要求設(shè)定)。
8.升降溫模式:溫濕度同步,
9.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。
吊籃冷熱沖擊試驗(yàn)箱 高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
2.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
3.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。
4.GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)。
5.GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)。
6.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫。
7.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫。
8.GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分:濕熱試驗(yàn)皓天儀器主營產(chǎn)品。
9.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)。
10.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))。
設(shè)備的型號:
1.型號:TSA-36F-2P 工作室尺寸W×H×D:35*30*35cm
2.型號:TSA-80F-2P 工作室尺寸W×H×D:40*35*35cm
3.型號:TSA-100F-2P工作室尺寸W×H×D:40*50*50cm
4.型號:TSA-150F-2P工作室尺寸W×H×D:60*50*50cm
5.型號:TSA-252F-2P工作室尺寸W×H×D:70×60×65cm
6.型號:TSA-480F-2P工作室尺寸W×H×D:85×80×60cm
*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯;
每臺電機(jī)均配置過流(過熱)保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù),確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要;
采用國際流行的制冷控制模式,可以自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際產(chǎn)品,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;
相關(guān)產(chǎn)品