半導(dǎo)體恒溫恒濕環(huán)境測試試驗設(shè)備廠家可程式恒溫恒濕試驗箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗環(huán)境,并滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對試驗箱的要求,主要適用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進行耐寒試驗、溫濕度變化或劇變條件下的適應(yīng)性試驗;特別適用于進行電子、電工產(chǎn)品的環(huán)境模擬溫濕度試驗。
型號:SMD-1000PF | 瀏覽量:616 |
更新時間:2023-10-29 | 是否能訂做:是 |
半導(dǎo)體恒溫恒濕環(huán)境測試試驗設(shè)備廠家
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):
1、工作室尺寸:1000*1000*1000MM;
2、外形尺寸約:1250*1750*1910MM;
3、溫度范圍: -60℃ ~ 150℃;
4、溫度波動度:≤±0.5℃;
5、溫度均勻度:≤±1℃;
6、溫度偏差:≤±2℃;
7、升降溫速率:
從 20~-40℃,約60min
從 20―100℃,約40min
8、濕度范圍:20%―98%R.H(AT 25℃~ 85℃)
9、濕度誤差: 2/-3%R.H(75%R.H以上),±5% R.H(75%R.H以下)
10、風(fēng)速:1.7~ 2.5m/s;
以上指標(biāo)均在環(huán)境溫度≤25℃,常壓,空載、無負荷條件下、距箱體內(nèi)壁1/6空間內(nèi)測試測得;
11、功率:約3.5Kw;
12、電源:220V±10%V;50Hz;
滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法:
GB/T2423.22-87Nb GJB1032-90 MIL-STD-2164/(E/C)
GB/T2423.4-93 GB/T2423.34-86 GJB150.9-86
半導(dǎo)體恒溫恒濕環(huán)境測試試驗設(shè)備廠家
一、概述
本系列產(chǎn)品具有模擬大氣環(huán)境中溫度、濕度條件。主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其元器件,以及其它材料在高溫、濕度、低溫綜合環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。用于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。
二、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備》GB 5170.18-2005
《溫度濕度組合循環(huán)試驗》GBT2423[1].34-2005
《濕熱試驗箱技術(shù)條件》GBT 10586-2006
《高溫試驗箱技術(shù)條件》GB 11158-2008
《低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10589-2006
《高低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10592-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫》GBT 2423.1-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》GBT 2423.2-2008
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