芯片測(cè)試桌上型恒溫恒濕評(píng)估試驗(yàn)箱廠家臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的檢測(cè)設(shè)備,用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行恒定試驗(yàn)的溫濕度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
型號(hào):SMC-36PF | 瀏覽量:716 |
更新時(shí)間:2023-10-29 | 是否能訂做:是 |
芯片測(cè)試桌上型恒溫恒濕評(píng)估試驗(yàn)箱廠家
性能指標(biāo):
1.溫度范圍: 室溫+10℃~150℃
2.溫度波動(dòng)度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度:≤±2℃
4.濕度范圍:85~98%R.H
5.濕度偏差:±3%R.H
6.濕度波動(dòng):±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度:設(shè)定精度±0.1℃,指示精度±0.1℃,解析度±0.1℃;濕度:設(shè)定精度±1%R.H,指示精度±1%R.H,解析度±1%R.H
5.升溫速率: 1.0~3.0℃/min
芯片測(cè)試桌上型恒溫恒濕評(píng)估試驗(yàn)箱廠家
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
3.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
4.GB/T2423.50-1999恒定濕熱試驗(yàn)Ca;
5.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
6.GB/T2423.4-2008交變濕熱循環(huán)試驗(yàn);
7.GB/T2423.34-2005溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)。
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):
1、工作室尺寸:300*300*400mm (寬×深×高);
2、外形尺寸約:520*900*1380mm (寬×深×高);
3、溫度范圍: -40℃ ~ 150℃;
4、溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃;
5、溫度均勻度:≤±1℃;
6、溫度偏差:≤±2℃;
7、升降溫速率:
從 20~-40℃,約60min
從 20―100℃,約40min
8、濕度范圍:20%―98%R.H(AT 25℃~ 85℃)
9、濕度誤差: 2/-3%R.H(75%R.H以上),±5% R.H(75%R.H以下)
10、風(fēng)速:1.7~ 2.5m/s;
以上指標(biāo)均在環(huán)境溫度≤25℃,常壓,空載、無負(fù)荷條件下、距箱體內(nèi)壁1/6空間內(nèi)測(cè)試測(cè)得;
11、功率:約3.5Kw;
12、電源:220V±10%V;50Hz;
滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法:
GB/T2423.22-87Nb GJB1032-90 MIL-STD-2164/(E/C)
GB/T2423.4-93 GB/T2423.34-86 GJB150.9-86
相關(guān)產(chǎn)品