科研低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱模擬環(huán)境當(dāng)中的低溫,高溫,高濕等,用于測(cè)試IC芯片,集成電路芯片,國(guó)產(chǎn)芯片,U盤(pán)芯片等各種何各樣的芯片在惡劣的環(huán)境所受到的影響。
型號(hào):THD-150PF | 瀏覽量:700 |
更新時(shí)間:2023-10-25 | 是否能訂做:是 |
科研低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱
控制系統(tǒng):
2. 實(shí)時(shí)監(jiān)控(監(jiān)控控制器實(shí)時(shí)數(shù)據(jù),信號(hào)點(diǎn)狀態(tài),實(shí)際輸出狀態(tài))。
3. 曲線記錄功能3.3.1.控制器可存儲(chǔ)600天內(nèi)歷史數(shù)據(jù)(24小時(shí)運(yùn)行狀態(tài)下,記錄間隔1min以上,溫濕度數(shù)據(jù)同時(shí)記錄時(shí)),且可回放上傳的控制內(nèi)歷史數(shù)據(jù)曲線。
4.可通過(guò)隨機(jī)贈(zèng)送軟件將導(dǎo)出來(lái)的文件在電腦查看或轉(zhuǎn)成EXCEL格式。
5.儀表配備RS232/485端口。
7.具有自動(dòng)演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為穩(wěn)定.
科研低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱
可為用戶檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實(shí)驗(yàn)部門(mén)提供一個(gè)模擬環(huán)境,為測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性(可重復(fù))提供條件.具有簡(jiǎn)單的操作性能和可靠的設(shè)備性能,先進(jìn)便捷操作的計(jì)測(cè)裝置,溫濕度控制器,采用先進(jìn)的中文液晶顯示畫(huà)面觸摸屏,可進(jìn)行各種復(fù)雜的程序設(shè)定,程序設(shè)定采用對(duì)話方式,操作簡(jiǎn)單、迅速。
制冷系統(tǒng)
★降低測(cè)試成本,增長(zhǎng)壽命,減低故障率。
★制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康"全封閉壓縮機(jī)。
★冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
★采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
★風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),并可使開(kāi)門(mén)瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。
★升溫、降溫、加濕系統(tǒng)*獨(dú)立可提
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