電子產(chǎn)品為什么要做高低溫老化測(cè)試呢?
*,電子產(chǎn)品在生產(chǎn)出廠過(guò)程中,總有一個(gè)步驟是*的,那就是高低溫老化測(cè)試。那么,電子產(chǎn)品為什么要進(jìn)行高低溫老化測(cè)試呢?我相信這個(gè)問(wèn)題很多人都有想過(guò),那么今天就請(qǐng)跟隨環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)專家——東莞皓天(高低溫老化箱廠家)一起來(lái)探究一下吧。
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品的集成化程度越來(lái)越高,結(jié)構(gòu)越來(lái)越細(xì)微,工序越來(lái)越多,制造工藝越來(lái)越復(fù)雜,這樣在制造過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括有兩類(lèi):
類(lèi)是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo),生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;
第二類(lèi)是潛在的缺陷,這類(lèi)缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn),而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露,如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。
一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然,對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的,所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓,例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn),來(lái)加速這類(lèi)缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力,模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境,消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì),使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn),盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段,進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期?! ?/span>
通過(guò)高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露,老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量,篩選剔除失效或變值的元器件,盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用,從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。
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