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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)分析
  • 日期:2018-08-04      瀏覽次數(shù):898
    •                                       環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)分析
          上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)如下(部分試驗(yàn)可能沒(méi)有相關(guān)國(guó)標(biāo),或者是我還沒(méi)有找到): 
      1、低溫試驗(yàn) 
      按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》; 
      GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 
          進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。 
      溫度范圍:-70℃~10℃。 
      2、高溫試驗(yàn) 
      按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》; 
      GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 
          進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。 
      溫度范圍:10℃~210℃ 
      3、濕熱試驗(yàn) 
      按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》; 
      GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》 
          進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。 
      濕度范圍:30%RH~RH 
      4、霉菌試驗(yàn) 
      按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。 
      5、鹽霧試驗(yàn) 
      按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。 
      6、低氣壓試驗(yàn) 
      按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》; 
      GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》; 
      GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》; 
      進(jìn)行低氣壓試驗(yàn),高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍:-70℃~100℃0~760mmHg20%~95%RH。 
      7、振動(dòng)試驗(yàn) 
      按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。 
      頻率范圍(機(jī)械振動(dòng)臺(tái)):5~60Hz(定頻振動(dòng)5~80Hz),它的移振幅3.5mm(滿(mǎn)載)。頻率范圍(電磁振動(dòng)臺(tái)):5~3000Hz,位移25mmP-P。 
      8、沖擊試驗(yàn) 
      按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍:(50~1500)m/s2。 
      9、碰撞試驗(yàn) 
      按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。 
      10、跌落試驗(yàn) 
      按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》; 
      GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。 
      說(shuō)明:上面13項(xiàng)比較全面地概括了產(chǎn)品在實(shí)現(xiàn)使用過(guò)程中碰到的外界環(huán)境;實(shí)際測(cè)試時(shí),因?yàn)楦鳟a(chǎn)品本身屬性的相差較遠(yuǎn)、使用環(huán)境相差也很大,各公司可以根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn),適當(dāng)選取、增加一些項(xiàng)目來(lái)測(cè)試(此產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的國(guó)/行標(biāo)中要求的必測(cè)試項(xiàng)目,當(dāng)然是必須測(cè)試的);也可以根據(jù)產(chǎn)品特定的使用環(huán)境與使用方法,自行設(shè)計(jì)一些新測(cè)試項(xiàng)目,以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能長(zhǎng)期工作。 
      測(cè)試條件:不同的產(chǎn)品測(cè)試條件不一樣;就拿高溫測(cè)試來(lái)說(shuō),有些產(chǎn)品要求做高溫貯存測(cè)試,有些要求做高溫運(yùn)行測(cè)試,有些產(chǎn)品的高溫用85℃做測(cè)試,有些產(chǎn)品的高溫是用65℃做測(cè)試。但是,宗旨只有一個(gè),那就是至少滿(mǎn)足國(guó)/行標(biāo)。要測(cè)試一種產(chǎn)品的可靠性,找到這種產(chǎn)品的國(guó)/行標(biāo)是必需的,按照國(guó)/行標(biāo)的要求和指引找出必須的測(cè)試項(xiàng)目與各項(xiàng)目的測(cè)試方法,從而進(jìn)行環(huán)境測(cè)試; 

       

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